集成光損耗測試儀FX45系列日本進(jìn)口VeEX
簡要描述：
集成光損耗測試儀FX45系列日本進(jìn)口VeEX集成的光損耗測試儀，帶有內(nèi)置光源和光功率計Multifield tester AQ1100 集成的光源和光功率計，出色的可操作性和功能 還可以選擇與MM850 / 1300nm和SM1310 / 1550 / 1625nm+ 27dBm兼容的大功率光功率計 3種型號的陣容取決于光源SM1310 / 1550nmSM1310 / 1550
產(chǎn)品型號：AQ1100
產(chǎn)品時間：2024-05-22
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集成的光損耗測試儀，帶有內(nèi)置光源和光功率計Multifield tester AQ1100 
集成的光源和光功率計，出色的可操作性和功能 還可以選擇與
MM850 / 1300nm和SM1310 / 1550 / 1625nm
+ 27dBm兼容的大功率光功率計
3種型號的陣容取決于光源
- SM1310 / 1550nm
- SM1310 / 1550 / 1625nm
- MM850 / 1300nm，SM1310 / 1550nm
可以根據(jù)應(yīng)用選擇3種類型的光功率計
- 光功率計：-70至+10 dBm
- 大功率光功率計：-50至+27 dBm
- PON功率計：1490 / 1550nm分離并同時測量
- 易于閱讀的大屏幕液晶顯示器
- 日語顯示，操作簡便
- 通過面對多芯光纖的測量功能
- 配備USB（保存測量結(jié)果）
- PING測試功能（可選）
- 可見光源（可選）
集成光損耗測試儀FX45系列日本進(jìn)口VeEX
FX45系列光損耗測試儀，具有內(nèi)置光源和光功率計，具有性價比，適用于雙向損耗測量應(yīng)用 
日本成本效益的光損耗測試儀已經(jīng)發(fā)布。
光損耗測試
儀是一種具有內(nèi)置LD光源和光功率計的萬用表，但是通過
使用兩個單元，可以在兩個方向上測量損耗。
當(dāng)必須進(jìn)行施工測量時，該方法將是有效的，這是通過將兩個方向上的測量值除以2并取其平均值以獲得測量值而獲得的。
光損耗測試
儀是一種具有內(nèi)置LD光源和光功率計的萬用表，但是通過
使用兩個單元，可以在兩個方向上測量損耗。
當(dāng)必須進(jìn)行施工測量時，該方法將是有效的，這是通過將兩個方向上的測量值除以2并取其平均值以獲得測量值而獲得的。
可以發(fā)行日本*認(rèn)證的校準(zhǔn)證書
盡管它是國外制造商的產(chǎn)品，但是如果您希望在購買時附上
校準(zhǔn)證書，則可以簽發(fā)已經(jīng)校準(zhǔn)過的校準(zhǔn)測試數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)證書（額外收費）
。 ， 你可以選擇。
僅光功率計部分還有一個選擇。
用于
校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)可追溯到作為日本*認(rèn)證機(jī)構(gòu)成員的其他國家的校準(zhǔn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu)。
| 制造商：VeEX |
| SHINNETSU | ST-55DG(1.5) 1M |
| HUJIHARA | PK-551 |
| MILLIPORE | ERS-2 |
| monotaro | PM10 |
| monotaro | PC10-03 |
| monotaro | 33152165 |
| Anywire | A41PB-16U-2 |
| OJIDEN | OFL-1-SM2C |
| FUJI | BS-S4 |
| american | 3122N |
| american | 3120 |
| ESTOOL | HRF160 |
| 3M | UXL100 |
| STUBAKI | BDTM101 |
| KODAIRA-SS | YBA-4 |
| RKC | W-ST50A-1000-Y3 |
| IMAO | STK50-30N |
| FUJIWARA | PRN-41 |
| FUJIWARA | EL6550-EM |
| FUJIWARA | EH electrode for PRN-41 |
| NIPRON | EPCSA-500P-X2S |
| SUZUKI | H-1 |