LLH-UV Series紫外光照明光源日本AITEC
簡(jiǎn)要描述：
LLH-UV Series紫外光照明光源日本AITEC適合用于對(duì)紫光燈的置換●UV-LED紫外照射光源適合用于紫外燈管的置換●無(wú)需擔(dān)心由于燈管破損所產(chǎn)生的玻璃碎片混入●LED式光源，點(diǎn)燈前無(wú)需預(yù)熱●與燈管式不同,不含水銀等有害物質(zhì)●高耐久性機(jī)體設(shè)計(jì),適用與藥品,日用品檢查工程
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品時(shí)間：2024-05-22
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適合用于對(duì)紫光燈的置換
●UV-LED紫外照射光源適合用于紫外燈管的置換
●無(wú)需擔(dān)心由于燈管破損所產(chǎn)生的玻璃碎片混入
●LED式光源，點(diǎn)燈前無(wú)需預(yù)熱
●與燈管式不同,不含水銀等有害物質(zhì)
●高耐久性機(jī)體設(shè)計(jì),適用與藥品,日用品檢查工程
●無(wú)需擔(dān)心由于燈管破損所產(chǎn)生的玻璃碎片混入
●LED式光源，點(diǎn)燈前無(wú)需預(yù)熱
●與燈管式不同,不含水銀等有害物質(zhì)
●高耐久性機(jī)體設(shè)計(jì),適用與藥品,日用品檢查工程
LLH-UV Series紫外光照明光源日本AITEC
紅外線照明Series一覧
紅外線照明IR Series
備有豐富種類的IR-LED機(jī)型為您提案●籍由各波段紅外線的特征,令使用可視光無(wú)法檢出的對(duì)象得以被檢出
●在機(jī)器視覺業(yè)界亦被廣泛應(yīng)用
●可對(duì)于在可視光照射下認(rèn)知困難的欠缺,實(shí)現(xiàn)高明暗差的畫像化
●對(duì)于在可視光照射下會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的工件,可進(jìn)行有效照射
●利用IR光照射的可穿透特性,令對(duì)物體的非破壞性檢查成為可能
面狀點(diǎn)陣照明Series一覧
高指向面狀點(diǎn)陣照明LFS Series
實(shí)現(xiàn)高照度?面狀發(fā)光的高指向性點(diǎn)陣照明●高照度?面狀發(fā)光?高指向性點(diǎn)陣照明
●搭載光學(xué)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)照射的高指向性
●即使到工件的照射距離長(zhǎng)，也能保證優(yōu)良的指向性
●可作為投光器進(jìn)行使用,應(yīng)用范圍廣泛
●適于作為金屬鹵素?zé)舻牡拇媸褂?/font>高輝度擴(kuò)散光直線照明Series一覧
高輝度擴(kuò)散光直線照明LLG Series
高輝度擴(kuò)散光高性價(jià)比Model●高輝度?低成本得以同時(shí)實(shí)現(xiàn)的高性價(jià)比Model
●籍由高照度擴(kuò)散光對(duì)工件進(jìn)行的照射,大大降低映射影響
●廣泛用途-適合應(yīng)用于透過(guò)、反射、擴(kuò)散光照射等目的
●適合應(yīng)用于傷痕檢查，印字檢查，形狀檢查，尺寸檢查等
●適用于電子元件、印刷、食品、醫(yī)療等范圍廣泛的行業(yè)之中高輝度擴(kuò)散光直線照明LLWG Series
高輝度擴(kuò)散光高性價(jià)比Model●高輝度?低成本得以同時(shí)實(shí)現(xiàn)的高性價(jià)比Model
●籍由高照度擴(kuò)散光對(duì)工件進(jìn)行的照射,大大降低映射影響
●廣泛用途-適合應(yīng)用于透過(guò)、反射、擴(kuò)散光照射等目的
●適合應(yīng)用于傷痕檢查，印字檢查，形狀檢查，尺寸檢查等
●適用于電子元件、印刷、食品、醫(yī)療等范圍廣泛的行業(yè)之中